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雙通道紫外輻照計/紫外照度計/照度儀型號;DP-UVB

DP-UVB紫外輻照計采用 SMT 貼片技術，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。該儀器適用于殺菌、光刻、紫外光源、水處理、醫(yī)療、育種等領域的紫外輻照度測量工作。

主要技術指標

波長范圍及峰值波長：

（1）UV-297 探頭：λ：(275～330)nm；λP＝297nm

（2）UV-254 探頭：λ：(230～275)nm；λP＝254nm

 輻照度測量范圍： (0.1～199.9×103) μW/cm2

 紫外帶外區(qū)雜光：

UV297：小于 0.05%

UV254：小于 0.1%

相對示值誤差：±8%（相對與 NIM 標準）

余弦特性(方向性響應)誤差：±10%

線性誤差：±1%

換檔誤差：±1%

短期不穩(wěn)定性：±1%（開機 30min 后）

疲勞特性：衰減量小于 2%

零值誤差：滿量程的±1%

響應時間：1 秒

使用環(huán)境： 溫度(0～40)℃，濕度＜85%RH

尺寸和重量：160mm×78mm×43mm；0.2kg

電源： 常規(guī)使用 6F22 型 9V 積層電池一只

亦可使用數(shù)據線連接 USB 接口、5V 電源適配器供電

整機功耗 ＜0.2VA

網址：m.j-lca.com